Das Presseportal für Redaktionen und Pressestellen
powered by Fotolabor Treml GmbH
|
| www.News-Ticker.org Das Presseportal für Redaktionen und Pressestellen powered by Fotolabor Treml GmbH |
|
|||
|
||||
 |
|
|||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||
|
||||||||||||||||
|
Neuer Memory-Tester zielt auf den wachsenden MCP-Markt und ermöglicht massiv parallele Tests von Flash- und DRAM-Speichern mit hoher Geschwindigkeit Advantest stellt neues Memory Test System T5587 vor Advantest (Europe) GmbH stellt mit dem Modell T5587 ein neues Testsystem für Speicherbauteile vor. Durch die erstklassige maximale parallele Testkapazität von 512 Bauteilen in der Konfiguration mit zwei Stationen erreicht das Modell T5587 einen hohen Testdurchsatz bei den für Mobiltelefone und andere Elektronikgeräte immer stärker gefragten MCP-Speicherbauteilen (Multi-Chip Package). dvantest (Europe) GmbH stellt mit dem Modell T5587 ein neues Testsystem für Speicherbauteile vor. Durch die erstklassige maximale parallele Testkapazität von 512 Bauteilen in der Konfiguration mit zwei Stationen erreicht das Modell T5587 einen hohen Testdurchsatz bei den für Mobiltelefone und andere Elektronikgeräte immer stärker gefragten MCP-Speicherbauteilen (Multi-Chip Package). Die zunehmende Verfügbarkeit von drahtlosen Breitbanddiensten hat die Entwicklung von drahtlosen Handheld-Kommunikationsgeräten, wie Mobiltelefone und PDAs, weiter vorangetrieben. Dabei werden die Verbraucher mit immer mehr Funktionen in kleineren Geräten umworben. Dieser Trend führt gleichzeitig zu einer steigenden Nachfrage bei MCP-Speicherbauteilen. Allerdings beinhalten die produktspezifisch entwickelten MCPs eine für die jeweilige Anwendung optimierte Kombination von SDRAM- und verschiedenen Flash-Speichern. Durch die speziellen Eigenschaften, Arbeitsgeschwindigkeiten und sehr unterschiedlichen Pinzahlen benötigen die Hersteller bislang verschiedene Tester in ihren Fertigungslinien. Der neue Memory-Tester T5587 von Advantest schafft hier Abhilfe, da er als All-in-One-Lösung mit hohem Durchsatz speziell für die Testanforderungen von DDR-SDRAM, NOR- und NAND-Flash-Speicher ausgerichtet ist. Durch die neu entwickelte Hochgeschwindigkeits-Bustechnologie und die verbesserte Bad Block Mask-Funktion konnte die Zeit für das Schreiben auf die einzelnen Bauteile gegenüber bisherigen Modellen um bis zu 80 % reduziert werden. Damit ergeben sich kürzere Gesamttestzeiten, während durch die maximale Testgeschwindigkeit von 200 MHz (400 Mbps im DDR-Modus) auch MCPs mit neueren, schnelleren Flash-Speichern, wie DDR-SDRAM und NOR, unterstützt werden. In Kombination mit dem neusten dynamischen Test-Handler M6300 von Advantest lässt sich durch die parallele Testkapazität von 512 Bauteilen des Modells T5587 eine deutliche Kostenreduktion in der Massenfertigung derartiger Bauteile erreichen. Über Advantest Advantest Corporation zählt zu den weltweit führenden Anbietern von automatischen Testsystemen (Automatic Test Equipment, ATE) für die Halbleiterindustrie und produziert darüber hinaus auch elektronische und elektrooptische Instrumente und Systeme. Das Unternehmen entwickelt und produziert neben Testsystemen auch Device Handler, mechanische und elektrische Schnittstellen sowie Software und kann damit vollständige Lösungen für den Test von Halbleitern anbieten. Die Logik-, Memory-, Mixed-Signal- und HF-Tester sowie die Bauteil-Handler von Advantest finden sich in den weltweit modernsten Fertigungsanlagen. Das Unternehmen wurde 1954 in Tokio gegründet und eröffnete 1982 die erste Tochtergesellschaft in den USA. Heute verfügt Advantest weltweit über insgesamt 43 Tochtergesellschaften, darunter Advantest Amerika, Inc. in Santa Clara/CA. und Advantest (Europe) GmbH in München. Kontaktinformationen: Melanie Bodem Advantest (Europe) GmbH Stefan-George-Ring 2 81929 München, Deutschland Tel. +49-89-993-12-131 E-Mail: m.bodem@eu.advantest.com
|
|
||||||||||||||||||
|
|
| Home | Impressum | Disclaimer | Kundenbereich | Jobmaschine für Journalisten |
|
Drucken der Pressemitteilung
